金属材料及制品-涂层厚度测试-GB

GB/T4956-2003磁性法;GB/T4957-2003涡流法;GB/T13452.2-2008金相法
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试验标准
GB/T4956-2003、GB/T4957-2003、GB/T13452.2-2008
GB/T4956-2003
本标准规定了使用磁性测厚仪无损测量磁性基体金属上非磁性覆盖层(包括釉瓷和搪瓷层)厚度的方法。本方法仅适用于在适当平整的试样上的测量。
GB/T4957-2003
本标准规定了使用涡流测厚仪无损测量非磁性基体金属上非导电覆盖层厚度的方法。本方法适用于测量大多数阳极氧化膜的厚度;但它不适用于一切的转化膜,有些转化膜因为太薄而不能用这种方法测量(见第7章)。本方法理论上能测量磁性基体金属上覆盖层的厚度,但不予推荐。在这种情况下,应采用GB/T4956中所规定的磁性方法进行测量。
GB/T13452.2-2008
GB/T13452《色漆和清漆》分为4个部分,本部分为GB/T13452的第2部分。规定了一系列用于测量涂敷至底材上的涂层的厚度的方法,包括测量湿膜厚度、干膜厚度、未固化粉末涂层厚度及粗糙表面上漆膜厚度的方法。《GB/T13452.2-2008色漆和清漆漆膜厚度的测定》本标准于2008-10-01起实施,本部分代替GB/T13452.2-1992《色漆和清漆漆膜厚度的测定》。
试验目的
涂层厚度是一个重要的工艺参数,在产品质量,过程控制和成本控制中都发挥着重要的作用。现在,技术人员可以利用许多不同的仪器来测量这些涂层或薄膜的厚度,而在选取最合适的测量方法时需要考虑到许多因素,包括涂层的类型、基体材料、涂层厚度范围、测试件的形状和尺寸以及测量成本等。
检测项目说明
磁性法-涂层厚度
1.GB/T4956-2003磁性法 2.GB/T4957-2003涡流法 3.GB/T13452.2-2008金相法



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